ICS 31.080.01 CCS L 40 GE 中华人民共和国国家标准 GB/T 4937.35—2024/IEC 60749-35:2006 半导体器件机械和气候试验方法第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查 Semiconductor devicesMechanical and climatic test methods- Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006,IDT) 2024-03-15发布 2024-07-01实施国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会

GB-T 4937.35-2024 半导体器件机械和气候试验方法第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查

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GB-T 4937.35-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查

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