ICS83.140 CCSA83 中华人民共和国国家标准 GB/T14447—2025 代替GB/T14447—1993 塑料薄膜静电性测试方法 半衰期法 Testmethodforelectrostaticpropertyofplasticfilm— Half-lifemethod 2025-08-01发布 2026-02-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会发布前 言 本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草。 本文件代替GB/T14447—1993《塑料薄膜静电性测试方法 半衰期法》,与GB/T14447—1993相 比,除结构调整和编辑性改动外,主要技术变化如下: ———更改了适用范围(见第1章,1993年版的第1章); ———更改了术语“静电电场强度”“静电半衰期”“剩余静电电压”“剩余静电电场强度”(见3.2、3.5、 3.6、3.7,1993年版的3.2、3.5、3.6、3.7); ———更改了试验原理的描述(见第4章,1993年版的第4章) ———增加了橡胶手套取样要求、样品尺寸要求、样品厚度的测量要求(见第5章); ———更改了试样状态调节及试验的标准环境(见第6章,1993年版的第6章); ———更改了试验装置示意图(见图1,1993年版测试装置示意图); ———更改了高压发生器的放电范围,放电电极的描述,试样夹具的描述(见7.1.2、7.1.3、7.1.4,1993年 版的7.1、7.2、7.3); ———增加了静电传感器的精度要求(见7.1.5); ———更改了静电计的描述(见7.1.6,1993年版的7.5); ———增加了静电消除装置(见7.2); ———更改了试验步骤(见第8章,1993年版的第8章); ———更改了试验结果的取值和表示(见第9章,1993年版的第9章); ———更改了试验报告(见第10章,1993年版的第10章)。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由全国包装标准化技术委员会(SAC/TC49)提出并归口。 本文件起草单位:山东省产品质量检验研究院、山东亚新塑料包装有限公司、临沂金锣文瑞食品有 限公司、江阴中达软塑新材料股份有限公司、浙江佳华精化股份有限公司、莱阳鲁花包装工业有限公司、 河北上东包装科技有限公司、山西省检验检测中心(山西省标准计量技术研究院)、济南兰光机电技术有 限公司、济南浩科仪器有限公司、道恩周氏(青岛)复合包装材料有限公司、济南利君机械设备有限公司、 齐鲁师范学院、山东永聚医药科技股份有限公司、安徽紫金新材料科技股份有限公司、山东丽曼包装印 务有限公司、苏州昆岭薄膜工业有限公司、金万正(广东)新材料有限公司、江苏星源新材料科技有限公 司、湖南优珀斯新材料科技有限公司、浙江众成包装材料股份有限公司、深圳市天利兴科技开发有限公 司、江苏科麦特科技发展有限公司、中国出口商品包装研究所、山东传媒职业学院、天津华恒新材料股份 有限公司、杭州神彩新材料实业有限公司、山东成玉包装科技有限公司。 本文件主要起草人:许超、张圣斌、姜传兴、宋文卿、孙洋、武吉伟、韩凤云、孙元浩、霍彦君、张耀威、 王明贞、陈程、唐柳文、姚玉香、李元月、韩立鑫、周婉茹、孔祥坤、齐永润、张维、王灿军、郭利、陈曦、仇凯、 杨索成、胡永刚、骆兴伟、郑晓宁、朱雷、李晓明、刘丹、李书锋、徐李强、朱文军、肖丽伟、剧树林、刘敏、 王冠中、冯清正、李慧、岳蕾、刘向、权德敏、任雁德。 本文件及其所代替文件的历次版本发布情况为: ———1993年首次发布为GB/T14447—1993; ———本次为第一次修订。 ⅠGB/T14447—2025 塑料薄膜静电性测试方法 半衰期法 1 范围 本文件描述了塑料薄膜静电半衰期(以下简称“半衰期”)的试验方法,给出了塑料薄膜静电半衰期 试验方法的试验原理、试样及制备、试样状态调节及试验的标准环境、试验仪器、试验步骤、结果的取值 及表示、试验报告。 本文件适用于防静电包装塑料薄膜,其他绝缘材料制成的薄膜参照执行。 2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文 件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于 本文件。 GB/T2918 塑料 试样状态调节和试验的标准环境 GB/T6672 塑料薄膜和薄片厚度测定 机械测量法 3 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 3.1 静电电压 electrostaticvoltage U 试样受某种外界作用后,其上积累的相对稳定的电荷所产生的对地电压。 3.2 静电电场强度 electrostaticfieldintensity E 试样受某种外界作用后,其上积累的相对稳定的电荷所产生的电场强度。 3.3 静电峰值电压 electrostaticpeakvoltage U0 试样受某种外界作用后,所产生的最大静电电压。 3.4 静电峰值电场强度 electrostaticpeakfieldintensity E0 试样受某种外界作用后,所产生的最大静电电场强度。 3.5 静电半衰期 electrostatichalf-life t1 2 试样静电电压(或静电电场强度)衰减至峰值的一半时所需的时间。 1GB/T14447—2025 3.6 剩余静电电压 residualelectrostaticvoltage 试样上随时间而变化的静电电压。 注:在1000s的时刻,试样上的剩余静电电压表示为U1000。 3.7 剩余静电电场强度 residualelectrostaticfieldintensity 试样上随时间而变化的静电电场强度。 注:在1000s的时刻,试样上的剩余静电电压电场强度表示为E1000。 4 试验原理 在规定的试验条件下,对放电电极施加高电压,以电晕放电形式使试样带电,在停止施加高电压后 试样上的静电压值达到最大,试样静电电压通过接地金属台自然衰减。通过确定峰值电压和半衰期,或 峰值电压衰减到一定比例,评价试样的静电性能。 5 试样及制备 5.1 试样应平整、清洁,使用洁净的镊子或佩戴洁净的橡胶手套拿取试样。 5.2 均匀裁取试样5片,每片试样的尺寸为(45±1)mm×(45±1)mm或适宜的尺寸。如果试样正反 面的表面静电性不同,应分别进行测试,正反各取试样5片。 5.3 按照GB/T6672测量每片试样的厚度,在整个试验面积上测量不少于5个点,记录最小值、最大 值和平均值。 6 试样状态调节及试验的标准环境 试样在GB/T2918规定的23/50标准环境,偏差等级1的标准环境下进行状态调节至少24h,试 样待测表面暴露在标准环境下进行测试。 7 试验仪器 7.1 试验装置 7.1.1 试验装置结构 试验装置结构如图1所示。 2GB/T14447—2025 标引序号说明: 1———高压发生器; 2———放电电极; 3———试样夹具; 4———静电传感器; 5———静电计; 6———静电-时间记录仪。 图1 试验装置示意图 7.1.2 高压发生器 能提供-10kV~0kV的电压,精度±1%。 7.1.3 放电电极 带负电的针电极,当高压作用于该电极时,会发生电晕放电,从而向试样充电。 7.1.4 试样夹具 由金属材料制成,应能平整地夹住试样。 7.1.5 静电传感器 能无接触地测量静电电压(或静电电场强度),精度±1%。 7.1.6 静电计 静电电压计量程-10kV~0kV(或静电场强计量程-200kV/m~0kV/m),用于显示静电电压 (或静电电场强度),精度±1%。 7.1.7 静电-时间记录仪 用于记录静电电压(或静电电场强度)-时间关系,衰减时间范围0s~9999s,分辨率0.01s。 7.2 静电消除装置 可选用自放电型或叠加电压型。用于试验前的消电处理。 8 试验步骤 8.1 按第6章的规定进行环境处理后,剪取5个尺寸为45mm×45mm的试样。 3GB/T14447—2025 8.2 使用7.2规定的装置对试样进行消电处理。 8.3 把试样装入夹具内,夹好后的试样应平整,无破裂,无皱折。 8.4 对放电电极施加-10kV的高电压并持续30s,停止施加高压电,记录试样静电峰值电压U0(或静 电峰值电场强度E0),并测定试样的静电半衰期t1 2。 8.5 根据需要,若60s、120s或者其他时间未达到半衰期,则停止试验,试验结果分别记录为大于 60s、120s或其他时间的残余静电电压值。 8.6 根据实际需要可测剩余静电电压(或剩余静电电场强度)。 8.7 从夹具中取出试样,重复8.2~8.6的试验步骤测试剩余4块试样。 8.8 每片试样仅测一次。 9 结果的取值及表示 取5个试样的静电半衰期的算术平均值作为测试结果,并报出最大值和最小值。正反面结果应分 别报出。静电半衰期以秒(s)为单位,当结果大于或等于10s时精确到1s;当结果小于10s时精确到 0.1s。 10 试验报告 试验报告应包括下列内容: a) 本文件编号; b) 试样的名称、种类和生产日期等说明; c) 测试面信息; d) 试样待测表面的有效尺寸,以毫米(mm)为单位; e) 被测试样的数量; f) 试样厚度; g) 试样状态调节的详细信息; h) 试验环境的温度和湿度; i) 试验装置; j) 试验结果:峰值电压、静电半衰期t1 2或其他衰减时间; k) 根据实际情况记录静电峰值电压U0(或静电峰值电场强度E0)和剩余静电电压(