ICS31.030 CCSL90 中华人民共和国国家标准 GB/T45505.2—2025 代替GB/T32642—2016,GB/T32643—2016 平板显示器基板玻璃测试方法 第2部分:表面性能 Testmethodofflatpaneldisplayglasssubstrate— Part2:Surfaceproperties 2025-08-01发布 2026-02-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会发布前 言 本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草。 本文件是GB/T45505《平板显示器基板玻璃测试方法》的第2部分。GB/T45505已经发布了以 下部分: ———第1部分:外观与几何尺寸; ———第2部分:表面性能; ———第3部分:热学性能; ———第4部分:力学性能; ———第5部分:光电性能。 本文件代替GB/T32642—2016《平板显示器基板玻璃表面粗糙度的测量方法》、GB/T32643— 2016《平板显示器基板玻璃表面波纹度的测量方法》,与GB/T32642—2016、GB/T32643—2016相比, 除结构调整和编辑性改动外,主要技术变化如下: a) 删除了术语“真实剖面曲线图”“预行程(和后行程)”“测定长度”“相位校正滤波器”(见 GB/T32642—2016的2.3,GB/T32643—2016的3.3、3.4、3.6); b) 增加了术语“截止比”“λS滤波器”“高斯滤波”(见3.4、3.5、3.8); c) 更改了术语“2RC滤波器”“高斯分布特性相位补偿滤波器”的定义(见3.6、3.7,GB/T32643— 2016的3.1、3.2); d) 增加了试验环境的要求(见第4章); e) 增加了表面粗糙度、波纹度的试验原理(见5.1.1、5.2.1); f) 更改了表面粗糙度、波纹度测量的试样要求(见5.1.3、5.2.3,GB/T32642—2016的第5章、 GB/T32643—2016的第6章); g) 更改了表面粗糙度、波纹度的测试条件(见5.1.4,5.2.4,GB/T32642—2016的第4章、 GB/T32643—2016的第4章); h) 增加了表面粗糙度、波纹度测量的数据处理(见5.1.6、5.2.6)。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)归口。 本文件起草单位:彩虹集团有限公司、彩虹显示器件股份有限公司、中国电子技术标准化研究院、 河北光兴半导体技术有限公司、蚌埠中光电科技有限公司、彩虹集团(邵阳)特种玻璃有限公司、芜湖东 旭光电科技有限公司、中建材玻璃新材料研究院集团有限公司、湖南邵虹特种玻璃股份有限公司、郑州 旭飞光电科技有限公司、新疆腾宇光电科技有限公司、石家庄旭新光电科技有限公司、青岛融合光电科 技有限公司、甘肃旭盛显示科技有限公司、东旭集团有限公司、武汉精测电子集团股份有限公司、深圳市 锐欧光学股份有限公司、深圳菲比特光电科技有限公司、浙江星柯光电科技有限公司、浙江创柔显示科 技有限公司。 本文件主要起草人:陈晓宁、李淼、吴怡然、杨国洪、赵俊莎、李青、仵小曦、徐莉华、曹可慰、曹志强、 杨荣、金良茂、史泽远、朱明柳、高羽、李赫然、张宝帅、薛新建、胡恒广、苏记华、李靖波、刘正茂、张晓春、 舒众众、刘俊、江志文、郑权、赵玉乐、曹欣、石丽芬、崔介东、张玉娇、董光明、陈涛涛、斯沿阳、韩娜、 单传丽、刘元奇、张广涛、王世岚、洪志坤、李瑞佼、杜青、洪金木、韦泽光、杨道辉、王坤、商洪岭。 ⅠGB/T45505.2—2025 本文件及其所代替文件的历次版本发布情况为: ———2016年首次发布为GB/T32642—2016,GB/T32643—2016; ———本次为第一次修订。 ⅡGB/T45505.2—2025 引 言 平板显示器基板玻璃是电子信息显示产业的关键战略材料,基板玻璃质量与面板成品的分辨率、透 光度、厚度、重量、可视角度等指标密切相关,代表着全球现代玻璃规模化制造领域的最高水平。在显示 基板玻璃不断高清化、大尺寸化、超薄化的情况下,对显示基板玻璃的质量要求逐年提高。 外观、长宽尺寸及偏差、厚度偏差、厚薄差、边缘形状、切角偏差、定位角偏差、直角度、挠度、翘曲度、 表面粗糙度、波纹度、退火点、应变点、软化点、平均线热膨胀系数、导热系数、再热线收缩率、密度、应力、 杨氏模量、剪切模量、泊松比、维氏硬度、透过率、折射率、体积电阻率、介电常数和介质损耗因数平板显 示器基板玻璃的重要指标,这些指标会影响平板显示器基板玻璃的产品质量,因此有必要确立平板显示 器基板玻璃测试方法。 GB/T45505《平板显示基板玻璃测试方法》旨在给出平板显示器基板玻璃各项性能测试方法,拟由 五个部分构成。 ———第1部分:外观与几何尺寸。目的在于提供平板显示器基板玻璃外观与几何尺寸的测试方法。 ———第2部分:表面性能。目的在于提供平板显示器基板玻璃表面性能的测试方法。 ———第3部分:热学性能。目的在于提供平板显示器基板玻璃热学性能的测试方法。 ———第4部分:力学性能。目的在于提供平板显示器基板玻璃力学性能的测试方法。 ———第5部分:光电性能。目的在于提供平板显示器基板玻璃光电性能的测试方法。 ⅢGB/T45505.2—2025 平板显示器基板玻璃测试方法 第2部分:表面性能 1 范围 本文件描述了以触针式表面粗糙度测量仪测试平板显示器基板玻璃表面粗糙度和波纹度的方法。 本文件适用于平板显示器用基板玻璃。 2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文 件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于 本文件。 GB/T10610—2009 产品几何技术规范(GPS) 表面机构 轮廓法 评定表面结构的规则和 方法 GB/T32639 平板显示器基板玻璃术语 3 术语和定义 GB/T32639界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3.1 触针式表面粗糙度测量仪 stylussurfaceroughnessmeasuringinstrument 探针在被测面的一部分上沿轮廓滑行,放大地记录下表面的不平整性并指明放大曲线的振幅是表 面粗糙度数值范围的仪器。 3.2 截止长波长 longwavelengthcut-off λC 排除自然因素,当示踪轮廓曲线通过消除波纹因素影响的高通波长滤波器后,振幅衰减率成为 75%时的波长。 3.3 截止短波长 shortwavelengthcut-off λS 示踪剖面曲线通过滤除粗糙度因素影响的低通波长滤波器后,波幅衰减率成为标准值75%时的 波长。 3.4 截止比 cut-offratio 截止长波长(λC)与给予的传输区域的截止短波长(λS)的比率(λC/λS)。 注:将30、100、300这3类作为截止比的标准值。 1GB/T45505.2—2025 3.5 λS滤波器 low-passfilter 截止短波长滤波器 为消除因触针的顶端半径而产生的细微波长区域的误差影响,对粗糙度成分与比其短的波长成分 之间的边界下定义的滤波器。 3.6 2RC滤波器 2RCfilter 时间常数相等的2组R-C回路串联连接,在截止波长下的标准传输率是75%的滤波器。 3.7 高斯分布特性相位补偿滤波器 Gaussianphasecorrectfilter 高斯滤波器 Gaussianfilter 将高斯分布作为权函数,将截面曲线中演算卷积积分后的曲线规定为相位补偿滤波纹度曲线,在截 止波长下的传输率是50%的滤波器。 3.8 高斯滤波 Gaussianfiltering 适用于消除高斯噪声,广泛应用于图像处理的减噪过程的一种线性平滑的滤波。 4 试验环境 除特殊规定外,试验均应在下述环境条件下进行。 a) 温度:25℃±5℃。 b) 相对湿度:40%~80%。 5 试验方法 5.1 表面粗糙度 5.1.1 试验原理 金刚石触针安装在传感器测杆上,测量时触针垂直于被测表面并触搭在试样表面上,驱动器以一定 的速度拖动传感器沿着与被测表面基本平行的基准线移动,试样表面轮廓的微观不平整峰谷起伏使触 针产生上下移动,通过电子装置放大移动信号,形成能表示触针位移量大小和方向的信号,经过粗糙度 分析处理单元按照预先设定的试验条件进行计算,最后通过计算机等输出装置输出有关粗糙度的数据 或图形。表面粗糙度属于微观几何形状误差,是试样表面具有的较小间距和微小峰谷的不平度。其两 波峰或两波谷之间的距离很小,即波距在1mm以下。 5.1.2 试验装置 使用触针式表面粗糙度测量仪测量平板显示器基板玻璃表面粗糙度,触针式表面粗糙度测量仪应 满足以下要求。 a) 尖部半径:2μm~5μm。 b) 尖部材质:金刚石。 5.1.3 试样要求 试样应为洁净的无缺陷平板显示器基板玻璃,在荧光灯或LED灯照射下用肉眼观察,不变形、无污 2GB/T45505.2—2025